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2025-11-17 -
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NS-20 非接触式膜厚仪是桌面式手动膜厚测量分析系统。在保证整体小巧轻盈的同时，其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能，性价比高。
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悉识科技 非接触桌面式自动 薄膜膜厚测厚仪AcuiTik白光干涉膜厚测厚仪NS-30采用垂直入射高稳定宽波段光的光学干涉原理，实现纳米至微米级透明或半透明膜层厚度、反射率及折射率的测量。具备国产化软硬件、高精度与稳定性、非接触测量及智能化算法等特点，适用于多层复合薄膜测量。产品包括桌面式自动测量系统悉识膜厚仪NS-30系列，具有高灵活性与便携性，适合多种应用场景。
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