-
产品型号
-
厂商性质
生产厂家 -
更新时间
2026-01-23 -
浏览次数
130
产品描述
NS-Micro系列是显微镜集成式膜厚测量分析系统。NS-Micro系列 (显微镜集成式膜厚仪)在标准显微镜基础上叠加光谱测量模块,能够将测量光斑精准聚焦至1微米区域,并实时显示测量点位彩色图像。 NS-Micro系列适用于微小区域膜厚测量或实验室研发场景等。
相关文章
产品型号
厂商性质
生产厂家更新时间
2026-01-23浏览次数
130产品描述
NS-Micro系列是显微镜集成式膜厚测量分析系统。NS-Micro系列 (显微镜集成式膜厚仪)在标准显微镜基础上叠加光谱测量模块,能够将测量光斑精准聚焦至1微米区域,并实时显示测量点位彩色图像。 NS-Micro系列适用于微小区域膜厚测量或实验室研发场景等。
产品型号
NS-Vista厂商性质
生产厂家更新时间
2025-11-04浏览次数
330产品描述
NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力,在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。
产品型号
NS-30系列厂商性质
生产厂家更新时间
2025-11-04浏览次数
310产品描述
NS-30系列是苏州悉识科技有限公司生产的桌面式自动膜厚测量分析系统,专门用于Wafer晶圆外延在线膜厚监控。
产品型号
NS-OEM厂商性质
生产厂家更新时间
2025-11-04浏览次数
249产品描述
NS-OEM系列(膜厚测量套件)是基于 NS-20 薄膜测厚仪研发的。其光学探头设计得较为紧凑,可适用于多种安装环境。为确保测量精准,光学探头需与样品表面保持垂直,建议使用我们配备的调角工具来精准调节安装角度。光学探头经由光纤连接到主机,光纤长度灵活可变,能够满足不同布局的安装需求。
产品型号
厂商性质
生产厂家更新时间
2025-11-04浏览次数
198产品描述
NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪是一款技术优良的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力,在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。